Patent Enstitüsü'nden taklit ürünlerin tehlikeleri konulu konferans

Türk Patent Enstitüsü (TPE) ve Alman Uluslararası Hukuki İşbirliği Vakfı (IRZ) işbirliği ile düzenlenen 'Taklit Ürünlerin Tehlikeleri' AB Eşleştirme

Türk Patent Enstitüsü (TPE) ve Alman Uluslararası Hukuki İşbirliği Vakfı (IRZ) işbirliği ile düzenlenen 'Taklit Ürünlerin Tehlikeleri' AB Eşleştirme Projesi Konferansı ile 'Taklit Ürünler ve Karikatür Sergisi' 7-8 Ekim 2010 tarihlerinde TPE'de yapılacak.

TPE ile IRZ birlikte yürütülen 'Sınai Mülkiyet Haklarının yürütme ve uygulamasının güçlendirilmesi için Türkiye'nin desteklenmesi' AB Eşleştirme Projesi kapsamında 7-8 Ekim 2010 tarihlerinde TPE Konferans Salonu'nda 'Taklit Ürünlerin Tehlikeleri' konulu bir uluslararası konferans ile 'Taklit Ürünler ve Karikatür Sergisi' gerçekleştirilecek.

Almanya'da ve Türkiye'de taklit ürünlerin ekonomi ve insan sağlığına verdiği zararların vurgulanacağı konferansta taklit ürünlere karşı mücadelede kullanılan teknikler hakkında bilgi alışverişinde bulunulacak. Bu kapsamda Türk ve Alman gümrükleri ve polis teşkilatının yürüttüğü faaliyetlere ek olarak özel sektörün konuyu algılayışı ve özel firmaların taklitle mücadele stratejileri ele alınacak.

Konferans çerçevesinde, özel konuşmacı olarak Alman Federal Patent Mahkemesi Başkanı Dr. Raimund Lutz'un yapacağı konuşmanın yanı sıra aynı mahkemede görev yapmakta olan Alman hakimler tarafından yargıda konunun ele alınışı hakkında bilgi verilecek. Konferansa, konu ile ilgili tüm hak sahipleri, avukatlar, hukukçular, akademisyenler, patent ve marka vekilleri katılabilecek.

TAKLİT ÜRÜNLER VE KARİKATÜR SERGİSİ

Ayrıca, 7 Ekim'de TPE fuaye alanında 'Taklit Ürünler ve Karikatür Sergisi' açılacak. Türkiye piyasalarında dolaşımda olan taklit ürünlerin orijinalleri ile yan yana sergileneceği sergide, Anadolu Karikatürcüler Derneği tarafından hazırlatılan ve taklit ürünlerin tehlikelerine dikkat çekmeyi amaçlayan karikatürler yer alacak. Sergi, 9-17 Ekim 2010 tarihlerinde Antares Alışveriş Merkezi'nde sergilenmeye devam edecek.